来源：北京市科学技术委员会门户网站

    近期，北京市科技计划课题“基于纳米材料的太赫兹人物同检技术研究”通过北京市科委组织的专家验收会。

    太赫兹检测成像技术，是通过处理透过成像样品或从样品反射的太赫兹电磁波强度和相位信息而成像的技术，具有快速（人流通过即完成安检），避免X射线照射伤害，对C4塑炸、塑料或陶瓷武器等非金属危险物品具有特异性高效识别等特点，适用于机场、车站、地铁、体育馆等公共场所。

    国际上美国、荷兰等国研制的被动式人体安检仪已经开始实际应用，国内首都师范大学、中电38所等单位也研制出了被动式太赫兹人体安检仪，但没有成熟的主动式太赫兹人物同检技术。

    在北京市科委支持下，国家纳米中心、清华大学、同方威视技术股份有限公司联合开展攻关，成功制备了纳米多层膜结构的高灵敏度、可在室温下工作的太赫兹探测器，并在此基础上开发了人物同检原型样机，该样机技术指标达到：检测非金属行李厚度15cm，二维空间分辨率1cm*1cm ，成像速度3.6帧/秒。下一步，课题组将进一步优化探测器性能，完善成像系统功能，对接轨道交通、口岸、海关等部门应用需求，开发第一代产品样机。